refre - 1Grazie alla sua vasta dotazione di strumentazioni analitiche, Stazione Sperimentale del Vetro è in grado di determinare con precisione ed affidabilità sia il tenore dei componenti principali presenti nei materiali refrattari, che il loro eventuale contenuto di contaminanti presenti in tracce.

Tarature strumentali e tecniche di preparazione del campione appositamente sviluppate permettono l’analisi accurata di matrici refrattarie acide, neutre e basiche, ivi compresi carburi, nitruri e refrattari ad alto contenuto di Mg, Cr o Zr.


Tramite questa tipologia di analisi è possibile determinare l’abbondanza nel campione degli elementi più comuni (es. Si, Al, Na, K, Mg, Ca, Fe, Ti, Pb, Zr, Cr, ecc), espressi sotto forma di percentuale in peso di ossidi; il limite di quantificazione dello strumento oscilla tra 0,001% e 0,01% in funzione dello specifico elemento.

L’analsi viene effettuata su dischetti di vetro detti “perle”, che si preparano a partire dal campione originale mediante pre-calcinazione a temperatura opportuna (per determinazione della perdita al fuoco, LOI, del materiale) e successiva fusione con fondente alcalino (tetraborato di litio). Qualora le specifiche esigenze analitiche lo richiedano (es. refrattari contenenti carburi o nitruri), è possibile effettuare l’analisi anche su pastiglie di polveri tal quali pressate, senza fusione.


Quando è richiesta la quantificazione di impurezze o contaminanti presenti in tracce infinitesime, la determinazione viene effettuata per “via umida”, impiegando strumenti quali GF-AAS, ICP-OES o ICP-MS, in funzione dello specifico elemento da analizzare e del limite di rivelabilità o quantificazione da raggiungere. Detection limit dell’ordine dello 0.1, o addirittura 0.01 ppb per alcuni elementi, possono essere raggiunti per es usando l’ICP-MS.


Nel caso di prodotti particolari, come ad esempio refrattari a base di carburi, con matrici carboniose, ecc, la determinazione accurata della composizione chimica dei materiali risulta possibile tramite l’impiego integrato di differenti tecniche analitiche come XRF + LOI, XRD ed analizzatori elementari S/C.